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      您的位置:首頁  -  產品中心  -  儀表,電子設備  -  napson  -  NC-10(NC-20)napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率

      napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率

      napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率NC-10(NC-20)的介紹
      簡單的測量儀器,只需將樣品插入探頭之間即可測量
      在電阻率/薄層電阻測量模式之間輕松切換
      通過 JOG 撥盤輕松設置測量條件
      *由于探頭為固定型,請在購買前從多種類型中選擇一種。

      • 產品型號:NC-10(NC-20)
      • 廠商性質:經銷商
      • 更新時間:2023-04-15
      • 訪  問  量:1252
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      napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率NC-10(NC-20)的介紹

      napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率NC-10(NC-20)的介紹

      產品特點

      • 節省空間,使用個人電腦輕松操作和數據處理

      • 非接觸式渦流法可實現無損傷測量

      • 探頭可拆卸和更換,因此每個量程的探頭都可以輕松更換。

      • (*可選用于第二個和后續電阻探頭)

      • 1 中心點測量

      • 厚度和溫度修正功能(硅晶圓)

      測量規格

      測量對象

      半導體/太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
       新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
       導電薄膜(金屬、ITO等)
       硅基外延、 ion Injection sample
       化合物半導體相關(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
       其他(*請聯系我們)

       

      測量尺寸

      3 至 8 英寸,~156 x 156 毫米
      (可選;2 英寸或 12 英寸,~210 x 210 毫米)

      測量范圍

      [電阻率] 1m 至 200 Ω?cm
      (*所有探頭類型的總范圍/當厚度為 500um 時)
      [薄層電阻] 10m 至 3k Ω/sq
      (*所有探頭類型的總范圍)

      產品特點

      • 只需觸摸手持探頭即可測量電阻

      • 在電阻率/薄層電阻測量模式之間輕松切換

      • 通過 JOG 撥盤輕松設置測量條件

      • 可互換連接器連接的電阻測量探頭支持各種電阻

      • (電阻探頭:最多可使用2+PN判斷探頭)


      測量規格

      測量對象

      半導體/太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
      新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
      導電薄膜(金屬、ITO等)
      硅基外延、 ion Injection sample
      化合物半導體相關(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
      其他(*請聯系我們)

      測量尺寸

      不受樣品尺寸和形狀的影響(但是,大于 20 mmφ 且表面平坦的樣品)均可測量


      測量范圍

      [電阻率] 1m 至 200 Ω?cm
      (*所有探頭類型的總范圍/當厚度為 500um 時)
      [薄層電阻] 10m 至 3k Ω/sq

      • 節省空間,使用個人電腦輕松操作和數據處理

      • 非接觸式渦流法可實現無損傷測量

      • 探頭可拆卸和更換,因此每個量程的探頭都可以輕松更換。

      • (*可選用于第二個和后續電阻探頭)

      • 1 中心點測量

      測量對象

      半導體/太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
      新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
      導電薄膜(金屬、ITO等)
      硅基外延、 ion Injection sample
      化合物半導體相關(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)



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