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      日本SENA檢查燈的型號及介紹

      更新時間:2025-07-25      瀏覽次數(shù):374
      日本SENA檢查燈的型號及詳細介紹:

      型號及介紹

      1. 185LE

      • 用途:主要用于晶圓、鏡頭、玻璃基板等表面的目視檢查,廣泛應用于TFT面板、彩色濾光片(CF)、觸摸屏制造等行業(yè)。
      • 核心功能
        • 高照度:在照射距離310mm、照射直徑55mm時,照度可達400,000 Lux以上。
        • 光源:直流點燈17V/185W鹵素燈。
        • 照度調整:照度可連續(xù)調節(jié)至最大照度的20%。
        • 冷卻方式:強制空冷。
        • 使用溫度范圍:0~40℃。
        • 電源電壓:AC 95V~AC 260V, 50/60Hz。
        • 功率:250W。
        • 尺寸:光源136mm H×112mm W×150mm D,電源229mm H×90mm W×250mm D。
        • 重量:光源2.3kg,電源3.6kg。

      2. 185LE-AL

      • 用途:與185LE類似,主要用于晶圓、鏡頭、玻璃基板等表面的目視檢查,適合TFT面板、彩色濾光片、觸摸屏制造等行業(yè)。
      • 核心功能
        • 高照度:在照射距離310mm、照射直徑55mm時,照度可達400,000 Lux以上。
        • 光源:直流點燈17V/185W鹵素燈。
        • 照度調整:照度可連續(xù)調節(jié)至最大照度的20%。
        • 冷卻方式:強制空冷。
        • 使用溫度范圍:0~40℃。
        • 電源電壓:AC 95V~AC 260V, 50/60Hz。
        • 功率:200W。
        • 尺寸:光源136mm H×112mm W×150mm D,電源229mm H×90mm W×250mm D。
        • 重量:光源1.2kg,電源3.6kg。

      3. 185FI

      • 用途:適用于需要高照度和特定光譜特性檢測的場景,如高反射材料、透明材料的檢測
      • 核心功能
        • 高照度:提供高亮度照明,滿足精密檢測需求
        • 光源:17V/185W鹵素燈
        • 照度調整:支持無級調光
        • 冷卻方式:強制空冷
        • 使用溫度范圍:0~40℃

      4. 370TFI/R

      • 用途:適用于大面積檢測,如大型玻璃基板、TFT面板等
      • 核心功能
        • 高照度:提供高亮度照明
        • 光源:鹵素燈
        • 照度調整:支持無級調光
        • 冷卻方式:強制空冷
        • 使用溫度范圍:0~40℃

      5. 100LE

      • 用途:適用于小型檢測場景,如小尺寸晶圓、小型光學元件等
      • 核心功能
        • 光源:鹵素燈
        • 照度調整:支持無級調光
        • 冷卻方式:強制空冷
        • 使用溫度范圍:0~40℃

      應用場景

      • 半導體晶圓檢測:用于檢測晶圓表面的微小缺陷,如劃痕、微粒、涂層不均等。
      • 液晶面板檢測:用于檢測TFT面板、彩色濾光片、觸摸屏等的表面雜質與微裂紋。
      • 玻璃基板檢測:用于檢測玻璃基板表面的雜質、微裂紋等。
      • 材料分析:用于檢測金屬涂層均勻性、塑料部件注塑缺陷等。
      這些型號的檢查燈均具備高照度、可調節(jié)照度、強制空冷等特性,能夠滿足不同工業(yè)檢測場景的需求。


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